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FTTx光时域反射仪 (OTDRs)

1.SUN-OT4900光时域反射仪
2.SUN-OT5000系列掌上型光时域反射仪

1、SUN-OT4900光时域反射仪



图1:SUN-OT4900光时域反射仪

SUN-OT4900光时域反射仪是一款高性能、高性价比的光网络分析寻障测试仪。该产品具有体积小、重量轻、功能强大、可电池供电、操作简单等特点,采用符合人体工程学的外形设计和3.5英寸LCD触摸显示屏。本仪表配有USB接口,通过该接口可将仪表中存储的测试迹线上传到计算机中;并使用配套的PC软件,进行光纤传输质量的分析和实现测量结果的后期处理、存档、打印。通过OTDR测量的数据和图像,您可以评估完整光缆链路的特征,特别是您可以很直观的看到被测光纤损耗特性和事件分布。它被广泛应用于光缆线路的维护、施工、监测之中,可进行光纤长度、光纤的传输衰减、接头衰减和故障定位等的测量。

产品特点
  • 1310/1550nm双波长测试;
  • 3.5英寸LCD触摸显示屏、操作方便;
  • 迹线数据图形显示及存储;
  • 随机附带PC分析软件,进行测量数据备份、存档管理;
  • 具备自动休眠功能,节省电能;
  • 镍氢电池供电,具有低电压保护功能,1次充电可连续工作6小时以上。


  • SUN-OT4900 OTDR基本功能
  • 确定光缆:光纤故障点、连接点、断点位置;
  • 描述光缆:光纤损耗分布曲线;
  • 测量光缆:光纤衰减系数、光纤两点之间的损耗、光纤连接头的插入损耗;
  • 测量光缆:光纤长度、光纤两点之间的距离、光纤反射事件的反射。


  • SUN-OT4900 OTDR具体的事件测量
  • 对每个事件:距离、损耗、反射;
  • 对每个光纤段:段长度、段损耗(dB或dB/km);
  • 对整个光纤链路:链长度、链损耗(dB)。
  • 适用范围
    SUN-OT4900光时域反射仪广泛应用于城域网、广域网、CATV等通讯系统中光缆、光纤的施工安装、排障、改造和维护。

    技术指标(1)

    型   号

    SUN-OT4900

    动态范围(2)(dB)

    24、25

    波长(nm)

    1310/1550 

    显示屏

    3.5寸 TFT LCD 触摸屏

    光源类型

    LD

    光接口

    FC(可配转换器进行SC、LC转换)

    距离范围(km)

    1、5、10、30、60、120

    脉冲宽度

    20ns、 40ns、 80ns、 160ns、320ns、640ns、1.28us、2.56us

    测量时间

    15s、30s、1min、2min、3min

    衰减盲区(3)(m)

    8

    事件盲区(m)

    4

    测距精读

    ±(1 m + 5×10-5×距离+取样间距)

    数据存储

    320条测试曲线

    通信接口

    USB

    产品尺寸(mm)

    220x110x70

    可见光

    波长(nm)

    650

    输出功率(dBm)

    ≥-3

    测试距离(km)

    5


    注释:
    (1)技术指标描述了用典型PC型连接器进行测量时仪器的保证性能。不考虑由于光纤折射率导致的不确定度;
    (2)动态范围是在最大脉冲宽度、平均时间3分钟条件下测得;
    (3)盲区测量条件:反射事件在4Km以内,反射强度﹤-35dB,用最小的脉宽进行测量。



    2、SUN-OT5000系列掌上型光时域反射仪

    SUN-OT5000系列掌上型光时域反射仪是一款独具匠心的光纤线路寻障分析产品,为光纤通信网测试提供了一种全新的应用方式,其稳定性和惊人的性价比在全球广受瞩目。其与传统OTDR相比,其尺寸更加小巧,操作更为简洁,独特的热键功能使事件的浏览和分析更加快捷;功能齐全,全面满足单模(1310nm/1550nm)、多模(850/1300nm)等光纤测试应用需求,支持平均/实时双测量模式;其多功能背包亦充分考虑到了野外作业和实验室测试的操作方便,可充分满足不同用户和各种现场测试需求,使其成为目前发展迅速的农话网、城域网和FTTx光纤施工、认证、例检、抢修和维护中的首选工具

    开机启动时间小于5 秒
    从开启电源到进入界面并启动测试只需要不到 5 秒的时间,用户无需等待。

    OTDR TraceManager 仿真软件
    基于Windows PC 机的软件可以在 PC 机上对测试迹线进行分析/编辑,也可根据用户需求生成不同形式的测试报告。

    SUN-OT5000 OTDR
    • 可浏览和分析所测试迹线文件
    • Bellcore文件存储格式
    • 显示迹线,光纤事件,分析信息,测试参数等数据
    • 单页单迹线或单页多迹线可选打印模式批量修改和批量打印功能
    • 波形差异对比功能在仿真模式中,可在同一窗口同时打开多个波形,波形间的差异在同一窗口显示出来,可以更容易地比较诸如光纤老化原因所造成的参数改变。
    • 双方向分析测试功能
    • 全面光纤测试应用:
                     单模:1310/1550nm,最大45dB
                     多模:850/1300nm,18/22dB
    • 高效人机界面,掌上型轻量化设计(仅重1kg)
    • 独特的热键设计:按键操作集成热键功能,快捷定位及分析事件点
    • USB/RS232数据接口
    • 1000条迹线存储(C型)
    • 优化的供电设计:内置NiMH充电电池一次充电可支持8小时测量
    • 防尘、防震设计

    技术指标:

    型 号(1)

    波长 (±20nm)

    动态范围 (dB)(2)

    事件盲区(m)

    衰减盲区(m)

      SUN-OT5000-M

      850/1300

      18/22

      7(6)

      20(6)

      SUN-OT5000-S1

      1310/1550

      24/24

      10(5)

      25(5)

      SUN-OT5000-S2

      1310/1550

      32/32

      2.5

      14

      SUN-OT5000-S3

      1310/1550

      38/37

      2.5

      14

      SUN-OT5000-S4

      1310/1550

      45/43

      2.5

      14

      测试范围 (Km)(3)

      0.1, 0.3, 0.5, 1.3, 2.5, 5, 10@850nm;

      0.1, 0.3, 0.5, 1.3, 2.5, 5, 10, 20, 40, 80@1300nm

      0.3, 1.3, 2.5, 5, 10, 20, 40, 80, 120, 160, 240@其他

      脉宽(4)

      12ns, 30ns, 100ns, 275ns, 1µs@850nm;

      12ns, 30ns, 100ns, 275ns, 1µs, 2.5µs@1300nm

      5ns, 10ns, 12ns, 30ns, 100ns, 275ns, 300ns, 1µs, 2.5µs, 10µs, 20µs@其他

      测量时间

      15s, 30s, 1min, 2min, 3min

      测距精度

      ±(1 m + 5×10-5×距离+取样间距)

      衰减测量精度(dB/dB)

      ±0.05

      反射测量精度(dB)

      ±4

      数据存储

      SUN-OT5000-S3,S4型:1000条测试曲线;SUN-OT5000-M,S1型:300条测试曲线

      通信接口

      USB/RS232

      光接口

      FC/PC (可互换SC, ST)

      供电方式

      双路供电:NiMH充电电池/ AC适配器

      电池工作时间

      一次充电后:连续操作≥8小时; 待机时间≥20小时

      工作温度(℃)

      0~50

      保存温度(℃)

      -20 ~ 70

      相对湿度

      0~95% (无结露)

      重    量(kg)

      1

      体积 (长×宽×厚)(mm)

      220×110×70


    注释:
    (1)技术指标描述了用典型PC型连接器测量时仪器的保证性能。不考虑由于光纤折射率导致的不确定度;
    (2)动态范围是在最大脉冲宽度、平均时间3分钟条件下测得;
    (3)距离范围中160Km档和240Km档只对本仪表的SUN-OT5000-S2,S3,S4型有效;120Km档只对本仪表的SUN-OT5000-M,S1型有效;
    (4)脉宽中5ns、10ns、300ns、10us档和20us档只对本仪表的SUN-OT5000-S2,S3,S4型有效;12ns和275ns档只对本仪表的SUN-OT5000-M, S1型有效;
    (5)盲区测量条件:对SUN-OT5000-M, S1型,反射事件在2.1Km处,反射强度<-35dB,用30ns脉宽进行测量;对SUN-OT5000-S2,S3,S4型,反射事件在0.6Km处,反射强度< -45dB,事件盲区用10ns脉宽进行测量,衰减盲区用30ns脉宽进行测量;
    (6)盲区测量条件:反射事件在1Km处,反射强度<-32dB,用12ns脉宽进行测量。

    标准配置:
    主机、FC/PC激光连接器、充电电池、TraceManager软件光盘、数据传输线(RS232/USB)、AC适配器、便携软包、保修卡、校准证书、快速操作手册

     

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